集成電路X-Ray
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        半導(dǎo)體微聚焦X射線檢測(cè)設(shè)備 AX8300S
        集成電路X-Ray
        半導(dǎo)體微聚焦X射線檢測(cè)設(shè)備 AX8300S
        ◆ 半導(dǎo)體專用離線X-ray檢測(cè)設(shè)備

        ◆ 70X幾何放大倍率

        ◆ 兼容2D、2.5D,可擴(kuò)展3D

        ◆ 解析度≤2μm
        半導(dǎo)體X-ray
        微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)設(shè)備
        產(chǎn)品詳情
        產(chǎn)品參數(shù)

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        產(chǎn)品說明  Product description


        日聯(lián)科技半導(dǎo)體X-ray

        日聯(lián)科技半導(dǎo)體X射線檢測(cè)設(shè)備 —— AX8300S

        具備高性能、高清晰度和高分辨率的X-Ray檢測(cè)設(shè)備,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、SMT、DIP、覆蓋IC、BGA、CSP、倒裝芯片、LED等檢測(cè)


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        設(shè)備應(yīng)用  Application


        X射線檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部缺陷

        日聯(lián)科技微焦點(diǎn)X-ray AX8300S采用的是免維護(hù)、長壽命的封閉式微焦點(diǎn)X射線源配置百萬級(jí)高分辨率FPD探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)高清晰實(shí)時(shí)成像


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        產(chǎn)品特點(diǎn)  Product Characteristics

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        客戶案例  Customer Case


        半導(dǎo)體X-ray

        日聯(lián)科技半導(dǎo)體X-ray設(shè)備AX8300S檢測(cè)系統(tǒng)擁有強(qiáng)大的圖像處理功能

        可自動(dòng)測(cè)算金線、氣泡空洞比率,高速CNC巡航自動(dòng)測(cè)算,半導(dǎo)體/BGA/IC/LED/IGBT檢測(cè)等眾多通用算法

        可拓展(實(shí)現(xiàn)批量生產(chǎn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ),SPC過程控制,MES系統(tǒng)定制接入等功能


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        安全保障  Safety Protection


        X射線的輻射危害及防護(hù)

        防輻射結(jié)構(gòu)-射線源無動(dòng)作自保護(hù)功能-接地保護(hù)

                                                                    






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