今日，日聯(lián)科技受邀參與受行業(yè)矚目的“第90屆CEIA電子智造高峰論壇 ”西安站。

會上，日聯(lián)科技與數(shù)百位業(yè)內專家、學者齊聚一堂，共同探討高可靠性智能檢測解決方案，為我國電子產(chǎn)業(yè)實現(xiàn)高質量發(fā)展獻策。

現(xiàn)場客戶云集，日聯(lián)科技專家針對工業(yè)檢測影像軟件、AI 人工智能算法、3D/CT 斷層掃描技術等在X射線檢測領域的應用做深度剖析。

日聯(lián)科技始終專注 X 射線自主創(chuàng)新研究，并不斷積累相關技術與產(chǎn)品的行業(yè)解決方案經(jīng)驗，實現(xiàn)了閉管微焦點射線源、集成電路檢測設備、新能源電池檢測設備、3D/CT 檢測設備和一體化壓鑄成型車架檢測設備等高端應用產(chǎn)品的不斷突破，推動國內 X 射線檢測領域核心部件、核心設備的國產(chǎn)替代進程。

了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測裝備信息可以撥打全國服務熱線：400-880-1456 或訪問日聯(lián)科技官網(wǎng)：www.t1442.cn