xray檢測(cè)
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        日聯(lián)科技榮膺先進(jìn)制造創(chuàng)新成果獎(jiǎng),閃耀2025華南SMT年會(huì)
        發(fā)布時(shí)間:2026-01-01 09:00:00

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        12月18日,在第21屆中國(guó)·華南SMT學(xué)術(shù)與應(yīng)用技術(shù)年會(huì)暨2025年度先進(jìn)制造成果頒獎(jiǎng)典禮晚宴上,日聯(lián)科技開(kāi)管智檢X-RAY——AX9600喜獲2025年度先進(jìn)制造創(chuàng)新成果獎(jiǎng)。

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        此次獲獎(jiǎng),標(biāo)志著行業(yè)對(duì)日聯(lián)科技的納米級(jí)檢測(cè)技術(shù)創(chuàng)新與AI智檢系統(tǒng)應(yīng)用落地的認(rèn)可。

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        *先進(jìn)制造創(chuàng)新成果獎(jiǎng)旨在表彰在SMT領(lǐng)域的技術(shù)提升、科技創(chuàng)新、產(chǎn)品研發(fā)等方面取得卓著成績(jī)的企業(yè),由廣東省電子學(xué)會(huì)SMT專委會(huì)頒發(fā),在SMT及電子制造領(lǐng)域內(nèi)具有較高專業(yè)性和行業(yè)認(rèn)可度。

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        會(huì)議上,日聯(lián)科技銷售總監(jiān)張霞針對(duì)精密電子檢測(cè)痛點(diǎn),進(jìn)一步分享了以“納米級(jí)CT與AI智檢”為核心的一體化高可靠性解決方案,與行業(yè)伙伴展開(kāi)了深入交流。


        光學(xué)微察,洞見(jiàn)缺陷

        日聯(lián)納米級(jí)智檢,賦能質(zhì)控升級(jí)

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        日聯(lián)開(kāi)管X-RAY——AX9600

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        AX9600采用日聯(lián)自研160kV開(kāi)放式X射線源,保證了0.8μm級(jí)缺陷全捕捉,實(shí)現(xiàn)納米級(jí)成像及零缺陷質(zhì)控全流程閉環(huán)。

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        納米級(jí)工業(yè)CT——AX9500

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        日聯(lián)科技開(kāi)管裝備覆蓋2D、2.5D、3D檢測(cè),作為納米級(jí)3D檢測(cè)裝備的AX9500通過(guò)三維無(wú)損掃描與高精度斷層成像,精準(zhǔn)捕捉并識(shí)別晶圓級(jí)及先進(jìn)封裝中的晶圓凸塊橋接、芯片冷焊、MEMS制造空洞等關(guān)鍵缺陷。

         

        了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測(cè)裝備信息可以撥打全國(guó)服務(wù)熱線:400-880-1456 或訪問(wèn)日聯(lián)科技官網(wǎng):www.t1442.cn

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